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引言 電子器件封裝后,焊料合金和襯底材料形成的冶金連接為其提供了必不可少的導電、導熱和機械連接,因此焊料合金的焊接性能直接決定著(zhù)焊點(diǎn)可靠性,甚至是整個(gè)電子設備的服役壽命。其中,焊料合金和襯底材料之間良好的潤濕是確保焊點(diǎn)可靠連接的前提條件。在焊料無(wú)鉛化和電子芯片微型化的進(jìn)程中,人們正在尋找可以替代SnPb共晶的焊料,目前常用的是Sn3Ag0.5Cu(SAC305)焊料合金。但SAC305焊料相比SnPb焊料,仍然有以下兩點(diǎn)不足: 1、由于無(wú)鉛焊料的潤濕性比SnPb共晶焊料差,因此在釬焊過(guò)程中可能會(huì )出現焊料的潤濕性能不能滿(mǎn)足要求、焊料的自校準能力差及焊點(diǎn)可靠性不達標等問(wèn)題。 SAC焊料的熔點(diǎn)(大約490K)高于傳統的SnPb焊料合金(456K),這將導致回流焊或波峰焊過(guò)程中焊接溫度的升高,進(jìn)而引起焊料氧化及形成過(guò)厚的金屬間化合物,影響了焊點(diǎn)的可靠連接。
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